Que faire avec EMIR&A

Les équipements du réseau d’accélérateurs EMIR&A permettent :

  • D’étudier les effets de l’irradiation dans les solides, dans une large gamme d’énergies (du keV au GeV) et de particules (ions, électrons), y compris les faisceaux d’ions simples, doubles et triples. Ce sont des outils uniques pour comprendre les propriétés des solides, pour créer des dommages contrôlés et pour comprendre l’évolution de la microstructure et des propriétés des matériaux sous irradiation.
  • Étudier les effets de radiolyse (à l’aide d’ions ou d’électrons) et les processus de cinétique rapide à l’aide de faisceaux pulsés ps.
  • Effectuer des caractérisations physiques et chimiques in situ des matériaux, avec des ions ou des électrons, en utilisant les techniques énumérées ci-dessous. Par exemple, la composition chimique, la structure cristallographique, les propriétés électriques, …
  • Analyser des matériaux par faisceau d’ions : composition élémentaire, y compris les éléments légers (H, He, C, O, …), traçage isotopique pour les études de corrosion ou de croissance par oxydation, mécanismes de diffusion, évolution du désordre, détermination de l’épaisseur de couches minces (de quelques dizaines à quelques centaines de nm). Plusieurs techniques IBA sont disponibles : RBS, RBS-C, NRA, PIGE, ERDA, PIXE, MEIS, ToF-SIMS, …

Différentes classes de matériaux peuvent être étudiées en utilisant les installations EMIR&A.

 

Tous les équipements d’EMIR&A sont répertoriés ci-dessous :

Accélérateurs d’ions pour l’irradiation des matériaux et des molécules 

ANDROMEDE, CIRIL@GANIL, JANNuS-Orsay, JANNuS-Saclay, Pelletron CEMHTI

Accélérateurs d’ions pour l’analyse de faisceaux d’ions 

ANDROMEDE, Microprobe LEEL, Pelletron CEMHTI, SAFIR

Accélérateurs d’électrons 

ELYSE, HVEM, SIRIUS, ALIENOR

Dispositifs de caractérisation in situ couplés aux accélérateurs

Spectrométrie Raman (faisceaux d’ion simple/double/triple), Microscopie électronique en transmission, Diffraction des rayons X, Analyse par faisceaux d’ions (RBS en temps réel, NRA en temps réel, RBS-C), IR, UV-Vis, Photoluminescence, Cathodoluminescence, Mesures électriques, Spectrométrie de masse, Analyse des gaz (électrons, ions)